电子信息技术

本发明涉及粮食成分测定技术领域，提出了高粱角质率测定方法，包括以下步骤：将高粱籽粒的胚芽去掉，剩余部分即为待测样品；称量单个待测样品的质量，记为m1；将单个待测样品的下端放置到测试筒的上端开口处；光源发出的光照射在待测样品上；由上向下逐层清理掉待测样品的粉质层，当位于测试筒上方的光谱检测器检测到待测样品的被清理处有光线透过时，停止对此透光处的清理，再去清理掉其它不透光处的粉质层；当待测样品上的粉质层全部被清理掉后，称量待测样品剩余部分的质量，记为m2；用待测样品剩余部分的质量除以单个待测样品的质量即可得出角质率a，即a＝m2/m1*100％。解决了相关技术中角质率测量结果的准确率有待提高的问题。

提升高粱品质检测水平：该测定方法能够快速、准确地测定高粱角质率，为高粱品质分级和品种选育提供科学依据，显著提高高粱的市场竞争力。

支持高粱育种研究：通过测定角质率，该方法可为高粱育种提供关键数据，帮助选育出更适合加工和食用的高粱品种，推动高粱育种技术的发展。

优化高粱加工工艺：角质率是影响高粱加工品质的重要因素，该方法能够为高粱加工企业提供精准的原料筛选依据，优化加工工艺，提高产品质量。

推动高粱产业发展：该测定方法能够为高粱种植、加工和销售提供统一的质量标准，推动高粱产业链的规范化和标准化发展，提升产业整体水平。

将高粱籽粒的胚芽去掉，剩余部分即为待测样品，称量单个待测样品的质量，记为m1，将单个待测样品的下端放置到测试筒的上端开口处，使待测样品的粉质层位于角质层上方并使粉质层全部位于测试筒上方，打开测试筒内部的光源，光源发出的光照射在待测样品上，因为高粱籽粒的角质层透光、粉质层不透光，所以初始时，粉质层的存在使得光源发出的光无法透过待测样品到达光谱检测器上。然后由上向下逐层清理掉待测样品的粉质层，当位于测试筒上方的光谱检测器检测到待测样品的被清理处有光线透过时，说明此处的粉质层全部被去掉，只剩角质层，停止对此透光处的清理，再去清理掉其它不透光处的粉质层；当待测样品上的粉质层全部被清理掉后，称量待测样品剩余部分的质量，记为m2；用待测样品剩余部分的质量除以单个待测样品的质量即可得出角质率a，即a＝m2/m1*100％。