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导电原子力显微镜针尖处理技术

  • 发布时间: 2020-12-04
预算 双方协商
基本信息
成果方:北京大学
合作方式:
成果类型:
行业领域
生物、医药和医疗器械技术
成果描述

原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM),是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用,作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时,利用传感器检测这些变化,就可获得作用力分布信息,从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。

 

应用范围

生物样品有机材料。

 

前景分析

联系方式

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    王经理

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    北京市

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